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原裝E+H光譜分析儀常見分類方法
原裝E+H光譜分析儀常見分類方法E+H光譜分析儀的種類繁多,常見的分類方法如下:按工作光譜的區(qū)域分類:紫外-可見光(UV-VIS)光譜儀、可見光(VIS)光譜儀、紫外-可見光-近紅外(VIR)光譜儀等類型
原裝E+H光譜分析儀常見分類方法
E+H光譜分析儀的種類繁多,常見的分類方法如下:
按工作光譜的區(qū)域分類:紫外-可見光(UV-VIS)光譜儀、可見光(VIS)光譜儀、紫外-可見光-近紅外(VIR)光譜儀等類型
按分光系統(tǒng)分類:棱鏡分光光譜儀、光柵分光光譜儀、濾色片分光光譜儀
按光路數(shù)量分類:單路光譜儀、多路光譜儀
按探測器分類:在可見光范圍內(nèi)主要有PMT光譜儀和CCD光譜儀兩種,在紫外、近紅外范圍內(nèi)還有專門的探測器類型
按掃描方式分類:機(jī)械掃描式光譜儀、快速掃描式光譜儀
按測量對(duì)象和測量結(jié)果的用途分類:分析用光譜儀、光色測量用光譜儀
在照明行業(yè),通常使用的都是可見光光色測量光譜儀,又細(xì)分為機(jī)械掃描式和陣列掃描式兩種
單色儀有入射和出射兩個(gè)狹縫,入射狹縫用來限制雜散光的進(jìn)入,一般位于準(zhǔn)直鏡的焦點(diǎn)上。出射狹縫用來限制光譜帶寬,一般位于物鏡的焦點(diǎn)上。狹縫通常由兩個(gè)具有銳利刀口的精密金屬片構(gòu)成,分為固定狹縫、單邊可調(diào)非對(duì)稱式狹縫和雙邊可調(diào)對(duì)稱狹縫幾種。用于光色測量的亮度計(jì)中,兩個(gè)狹縫通常設(shè)計(jì)為等寬,且不能自行調(diào)節(jié)。在用于材料分析的亮度計(jì)中,狹縫往往設(shè)計(jì)成可由儀器自動(dòng)調(diào)節(jié)寬度。
E+H光譜分析儀一般由分光系統(tǒng)、接收系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成,其工作原理是將光源發(fā)出的復(fù)色光按照不同的波長分離出來,配合各種光電探測器件對(duì)譜線強(qiáng)度進(jìn)行測量,獲得光譜功率(輻射)分布,再計(jì)算出色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、光通、輻射通量等光色性能參數(shù)。
原裝E+H光譜分析儀常見分類方法